图十. (a)缺字初步判断影像输出;(b)缺字影像之相关系数数据
对于检验加速方面的考虑，我们以金字塔的观念，建立一个原影像的等比例缩小图，来简化相关系数运算时的数据处理量，在大图形时可以将原检测图形以等比例缩小数次，可以减少运算时间，同时搜寻到的组件位置也不会偏差太多。
各处理步骤所需所花的时间如表一依所示。我们利用C 语言指针的特性加速程序的执行，采用区域图像处理，而尽量不进行整张图形处理。整个检验流程，以一个有30 个字符的IC 影像而言只需0.5 秒左右，如再进一步将程序优化，则可望再减少些检验所需时间。
表一. 处理各步骤所需时间
4. 结论
本文提出利用相关系数作为对IC 影像瑕疵与否的分类器，依据相关系数的数值，来做相对应的判断处理，可以简化IC 检验处理流程。利用相关系数的分类对于检验加速而言相当有效，但其却对字符的影像撷取质量相当敏感，故整体检验时环境需要多加注意。对于字体印刷质量的界定，应可有更佳的检测方法。以增进判断的准确与细致。
参考文献
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[本文已被作者于2007-9-19 8:56:41编辑过]，印刷电路板表面组件自动化检验