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采用光生伏特效应的LED芯片在检测方法上的研究,http://www.5idzw.com
,采用光生伏特效应的LED芯片在检测方法上的研究
根据图l所示的等效电路,可以得到光生电流IL与支架上流过的电流I的关系为:
由式(6)和式(7)可以看出,支架上流过的电流I与LED的多个电参数都有关系。对于相同颜色同种类型且功能完好的不同I,ED样品,因为材料和结构都相同,其体电阻Rs1并联电阻Rsh以及电流电压关系也认为是相同的。而封装过程中存在的诸多缺陷(固晶胶连或焊接质量问题)则会导致不同LED的电极电阻及电极和结之间的接触电阻Rs2存在差异。由于Rs为一低电阻,小于1Ω 欧姆,Rsh止为一高电阻,约有几kΩ,LED引线支架的电阻也非常小,一般在mΩ量级,因此有时不考虑Rsh和RL的影响,则光生电流IL与支架上流过的电流,的关系式以简化为:
对于2.1节所述的红色LED样品,当产生的光生电流IL为101μA时,若取串联电阻Rs=1Ω,AR正=0.1 Ω,根据式(8),则支架上流过的电流,的变化略小于10%。这说明,接触电阻的微小差异都会对支架上流过的光生电流I产生较大的影响。因此。对于功能完好的LED芯片,通过分析支架上流过的光生电流,可以获得接触电阻的大小,进而可以检测LED封装过程中芯片与引线支架之间的电气连接状态。
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